Politechnika Wrocławska
Nauczyciele Akademiccy
Doktoranci
Pracownicy inżynieryjno- techniczni

Nasi studenci
Anna Gosiewska
Kamil Raczkowski
Andrzej Dzierka
Paweł Biczysko
Mateusz Jasiński
Michał Babij
Piotr Kunicki
Nasi wcześniejsi współpracownicy
Benedykt Licznerski
Andrzej Bochenek
Janusz Kozłowski
Janusz Wilk
Agata Masalska-Pawlak
Marcin Dudek
Krzysztof Kolanek
Mirosław Woszczyna
Mateusz Wroński
Paweł Zawierucha
Magdalena Bujonek
Zuzanna Kowalska
Bogumił Frank
Mateusz Garbowicz
Krzysztof Garczyński
Grzegorz Gruca
Wiktor Herwich
Marcin Klich
Jakub Mateńko
Grzegorz Małozięć
Piotr Mulak
Konrad Nieradka
Zdzisław Nowacki
Łukasz Olczyk
Jarosław Olszewski
Adam Piotrowicz
Jan Skwierczyński
Piotr Słupski
Przemysław Sulecki
Tomasz Wojciechowski
Bartłomiej Wierdak
Klaudiusz Woźniak
Krystian Cecot
Michał Dusza
Alicja Palczyńska
Natalia Pyka
Roman Szeloch

dr hab. inż. Roman Szeloch
budynek C-2, pokój 406, +48 (71) 320-26-13
roman.szeloch@pwr.edu.pl
strona prywatna

Zainteresowania naukowe/działalność naukowa

  • teoria i fizyka niezawodności
  • mikroskopia sił atomowych
  • skaningowa mikroskopia termiczna
  • analogowe i cyfrowe przetwarzanie sygnałów

Uczestnictwo w grantach

  • MNiSW 3T11B02130  Informacje w diagnostycznych systemach bliskiego pola,
    (2006-2008), kierownik projektu dr hab. inż. Roman Szeloch
  • KBN 4T11B00224  Charakteryzacja własności termicznej struktur wielowarstwowych
    z mikro i nanometrową rozdzielczością, (2003 - 2005), kierownik projektu dr hab. inż. Roman Szeloch, prof. nadzw
  • KBN 8T11B04218  Mikroskopia bliskiego pola optycznego SNOM-PSTM
    z mikrosystemowym detektorem promieniowania optycznego, (1999 - 2001), kierownik projektu dr inż. Jacek Radojewski
  • KBN 8T11B00615  Badania niejednorodności termicznych w mikrosystemach,
    (1998 - 2000), kierownik projektu dr hab. inż. Roman Szeloch
  • KBN 8T11B00715  Mikroskop sił elektrostatycznych w diagnostyce materiałów
    i elementów mikroelektronicznych, (1998 - 2000), kierownik projektu dr inż. Teodor Gotszalk
  • KBN 8T11B 061 09  Badanie zjawisk przewodnictwa, polaryzacji elektrycznej i szumów strukturalnych w grubowarstwowych kompozytach sadza - polisterimid; wykonawca - do 1997r.

Członkostwo w organizacjach krajowych i zagranicznych

  • Przewodniczący Wydziału Nauk Technicznych we Wrocławskim Towarzystwie Naukowym - od marca 2004
  • Członek Sekcji Elektrotechnologii Komitetu Elektrotechniki PAN - Warszawa - Wrocław
  • Członek Komisji Materiałów przy PAN Oddział we Wrocławiu

Dydaktyka

  • Prace dyplomowe, obecnie 2 prace, ukończonych kilkadziesiąt

 

Ważniejsze publikacje

  • Prace dyplomowe, obecnie 2 prace, ukończonych kilkadziesiąt
  • E. Kamińska, K. Gołaszewska, A. Piotrowska, A. Kuchuk, R. Kruszka, E. Papis, R. Szeloch, P.Janus, T. Gotszalk, A. Barcz, Study of long-term stability of ohmic contacts to GaN. Badanie długoterminowej stabilności kontaktów omowych do GaN, KKPhys. Status Solidi, C Conf. Proc. 2004 vol. 1 nr 2 s. 219-222
  • R. Szeloch, P.Janus, T. Gotszalk, Thermal characterization of micro-devices with far and near field microscopy. Termiczna charakteryzacja mikrosystemów przy zastosowaniu mikroskopii dalekiego i bliskiego pola, Opt. Appl. 2003 vol. 33 
    nr 4 s. 669-676
  • R. Szeloch, W. Posadowski, T. Gotszalk, P. Janus, T. Kowaliw, Thermal characterization of copper thin films made by means of sputtering. Termiczna charakteryzacja cienkich warstw miedzi wytwarzanych metodą sputeringu, Mater. Sci. 2003 vol. 21 nr 3 s. 339-343
  • R. Pędrak, T. Ivanov, K. Ivanova, T. Gotszalk, N. Abedinov, I. W. Rangelow, K. Edinger, E. Tomerov, T. Schenkel, P. Hudek, Micromachined atomic force microscopy sensor with integrated piezoresistive sensor and thermal bimorph actuator for high-speed tapping-mode atomic force microscopy phase-imaging in higher eigenmodes. Mikrosytemowy piezorezystywny czujnik ze wzbudzeniem termicznym do mikroskopii sił atomowych dużej prędkości skanowania, J. Vac. Sci. Technol., B Microelectron. Nanometer Struct. 2003 vol. 21 nr 6 s. 3102-3107
  • T. Gotszalk, P. Janus, A. Maendziak, P. Czarnecki, J. Radojewski, R. Szeloch, P. Grabiec, I. Rangelow, Diagnostics of micro- and nanostructure using the scanning probe microscopy, J. Telecomun. Inf. Technol. 2005 nr 1 s. 41-44
  • T. Gotszalk, R.F. Szeloch, A. Marendziak, K. Kolanek, P. Grabiec, P. Janus, I. Rangełow, Mikroskopia bliskich oddziaływań w pomiarach fizycznych właściwości mikro- i nanostruktur, W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. Pod red. Janusza Mroczki.Wrocław, 6-9. 09.2004, s. 515-518
  • R.F. Szeloch, T.P. Gotszalk, P. Janus, Thermal characterization of micro-devices with far and near field microscopy, Optica Applicata, 2003 vol.XXXIII,No. 4, pp. 669-676
  • R.F. Szeloch, T.P. Gotszalk, P. Janus, Scanning Thermal Microscopy in Microsystem Reliability Analysis, Microelectron. Reliab. 2002 vol. 42 nr 9-11 pp. 1719-1722
  • P. Janus, R.F. Szeloch, T. Gotszalk, Scanning thermal microscopy in microsystems characterization, Proc. of the 5th Int. Conf. Thermal Problems in Electronics. Microtherm 2003, Łódź, June 30- July 2, pp.113-117
  • R.F. Szeloch, T.P. Gotszalk, P. Janus, Atomic force microscopy and micro-thermal analysis in characterisation of microsystems, Proc. of European Microelectronics and Packaging Conference IMAPS - Europe. Cracow 16-18 June, 2002, s.395-397
  • J. Kita, A. Dziedzic, K. Friedel, L. Golonka, P. Janus, R. F. Szeloch, Surface temperature distribution analysis in sensors with buried heater made in LTCC technology, Proc. of 13-th European Microelectronics and Packaging Conference, Strasbourg (France), May 30-th,31-st and June 1-st. 2001, s. 123-128