Publikacje

Z dorobkiem naukowym pracowników, doktorantów i studentów Wydziałowego Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur od roku 2006 można zapoznać się w bazie DONA PWr:

dorobek naukowy pracowników W12/Z3.

Wybrane wcześniejsze publikacje wymienione są na indywidualnych stronach pracowników Zakładu oraz poniżej, pogrupowane według dat publikacji:

rok 2006
rok 2005
rok 2004
rok 2003
rok 2002
rok 2001


2006

 

Konferencja Naukowa Czujniki Optoelektroniczne i Elektroniczne

  • A. Sankowska, P. Gąsior, W. Błażejewski, M. Sipura, Czujniki światłowodowe do monitorowania stanu wytężenia włóknistych materiałów kompozytowych, COE, 2006

  • M. Woszczyna, A. Masalska, P. Zawierucha, P. Grabiec, P. Janus, T.Gotszalk
    Zastosowanie piezoelektrycznego czujnika nanooddziaływań w modularnej mikroskopii sił atomowych, COE, 2006 (II nagroda Komitetu Naukowego)

  • K. Kolanek, T. Gotszalk, M. Zielony, R. Szeloch Pomiar sił elektrostatycznych 
    w mikro- i nanostrukturach za pomocą mikrodźwigni z przewodzącą sondą w trybie "podnoszonego ostrza"
    , konferencja COE 2006

  • P. Zawierucha, T. Gotszalk, P. Mulak, A. Sankowska, Ł. Rząsa Natężeniowy światłowodowy czujnik zbliżeniowy do charakteryzacji układów typu MEMS, COE, Zakopane 2006

  • A. Masalska, K. Kolanek, M. Woszczyna, P. Zawierucha, T. Gotszalk, E. Zschech Kalibracja ostrza pomiarowego mikroskopu sił atomowych z zastosowaniem próbek wzorcowych o zdefiniowanym kształcie, konferencja COE 2006

Elektronika

  • P. Mulak, T. Gotszalk, K. Kolanek, M. Woszczyna, A. Masalska, P. Zawierucha, 
    M. Zielony, R. Szeloch, P. Janus, P. Grabiec Zastosowanie interferometrii światłowodowej w ocenie właściwości metrologicznych czujników bliskiego pola mikroskopu sił atomowych, Konferencja Metrologia Kwantowa, Poznań, 9-10 maja 2006, Elektronika 5/2006, str. 57-59 

  • K. Kolanek, T. Gotszalk, M. Woszczyna, A. Masalska, P. Zawierucha, P. Mulak,
    R. Szeloch, M. Zielony, P. Janus, P. Grabiec Wytwarzanie przyrządów elektroniki kwantowej metodami mikroskopii bliskich oddziaływań, Elektronika 2006

Krajowa Konferencja Elektroniki

  • P. Zawierucha, T. Gotszalk, K. Woźniak, M. Zielony, M. Woszczyna Zastosowanie potencjometrów cyfrowych w układach sterowania mikroskopu bliskich oddziaływań,
    V Krajowa Konferencja Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 12-14 czerwca 2006

  • M. Woszczyna, T. Gotszalk, P. Zawierucha, M. Zielony, Zastosowanie detektorów przesunięcia fazowego do pomiarów bliskich oddziaływań w mikroskopii sił atomowych, KKE, 2006

  • P. Zawierucha, T. Gotszalk, K. Woźniak, M. Woszczyna, M. Zielony Zastosowanie potencjometrów cyfrowych w układziesterowania mikroskopu bliskich oddziaływań, KKE, 2006

Konferencja Naukowa Studentów

  • K. Woźniak Precyzyjny i wysokorozdzielczy cyfrowy generator sygnałowy,
    IV Konferencja Naukowa Studentów, Wrocław, 22-24 maja 2006

  • G. Wielgoszewski, B. Wielgoszewski Stan zabytkowego taboru tramwajowego
    we Wrocławiu oraz perspektywy jego wykorzystania,
     IV Konferencja Naukowa Studentów, Politechnika Wrocławska, Wrocław 2006

  • G. Wielgoszewski, P. Mulak, K. Woźniak, W. Herwich, M. Zielony Uniwersalny
    cyfrowy regulator PID do sterowania temperaturą w układach mikrosystemowych
    i optoelektronicznych
    , IV Konferencja Naukowa Studentów, Politechnika Wrocławska, Wrocław 2006

  • M. Świątkowski, K. Woźniak, Ł. Olczyk, G. Gruca, G. Wielgoszewski, J. ChorowskiStudencka tablica informacyjna na bazie zespołu matryc LED, sterowana poprzez protokół TCP/IP, IV Konferencja Naukowa Studentów, Wrocław, 22-24 maja 2006

Physics and Chemistry of Solid State

  • J. Bałamucki, P. Czarnecki, T. Gotszalk, A. Marendziak, I. W. Rangelow, J. Wilk,
    Z. W. Kowalski, Profilometric, SEM and AFM investigations of titanium and steel surface micro- and nanoroughness induced by neutralized krypton ion beam as a first stage of fractal analysis, Physics and Chemistry of Solid State, 2006, vol. 7,
    nr 3, s. 577-584

Sensors and Actuators B: Chemical

  • T. Sobański, A. Szczurek, K. Nitsch, B.W. Licznerski, W. Radwan, Electronic nose applied to automotive fuel qualification,Sensors and Actuators B: Chemical, Volume 116, Issues 1-2, 28 July 2006, 207-212
[ Powrót ]

2005

Elektronika
  • J. Martan, Z. W. Kowalski, Wpływ czasu bombardowania jonowego na charakter struktury geometrycznej powierzchni stali, Elektronika, 2005, R.XLVI, z. 6, s. 18-19

  • T. Gotszalk, A. Marendziak, I. W. Rangelow, J. Wilk, Z. W. Kowalski, Przygotowanie mikroskopu sił atomowych do pomiarów nanochropowatości powierzchni rozpylanej jonami - wstęp do analizy fraktalnej, Elektronika, 2005, R.XLVI, z. 6, s. 15-17
Krajowa Konferencja Elektroniki
  • M. Woszczyna, A. Masalska, K. Kolanek, T. Gotszalk, R. Szeloch, Wejściowe układy elektroniczne współpracujące z mikrosystemowymi piezoelektrycznymi czujnikami nanosił i nanowychyleń, KKE,2005

  • K. Kolanek, A. Sikora, T. Gotszalk, R. Szeloch Sterowanie procesem nanolitografii
    w modularnej mikroskopii bliskich oddziaływań
    , Krajowa Konferencja Elektroniki 2005, str. 525-529

  • M. Woszczyna, A. Masalska, K. Kolanek, T. Gotszalk, R. Szeloch Wejściowe układy elektroniczne współpracujące z mikrosystemowymi piezoelektrycznymi czujnikami nanosił i nanowychyleń, Krajowa Konferencja Elektroniki 2005, str. 531-535

  • T. Gotszalk, A. Sikora, K. Kolanek, R. Szeloch, J. Szmidt, P. Grabiec,
    I.W. Rangelow, S. Mitura Metody mikroskopii bliskiego pola od mikro do nanoelektroniki: diagnostyka, wytwarzanie, Krajowa Konferencja Elektroniki 2005, 
    str. 33-43
Vacuum
  • R. Tabaka, G. Przybylski, J. Martan, Z. W. Kowalski, Fractal analysis of roughness profile induced by ion bombardment of metal surface, Vacuum, 2005, vol.78, nr 2-4, s.217-221

2004


Konferencja Naukowa Czujniki Optoelektroniczne i Elektroniczne

  • T. Gotszalk, M. Woszczyna, K. Waszczuk, K. Woźniak, J. Włodarczyk,
    J. Radajewski Zastosowanie rezonatorów piezoelektrycznych jako czujnika sił
    w mikroskopii sił atomowych
    , COE, 2004

Krajowa Konferencja Elektroniki

  • T. Gotszalk, J. Radojewski, R. Szeloch, A. Marendziak, A. Sikora, T. Hasek,
    K. Kolanek, P. Grabiec, I.W. Rangelow Diagnostyka materiałów i układów mikro-
    i nanoelektronicznych metodami modularnej mikroskopii bliskich oddziaływań
    ,
    Krajowa Konferencja Elektroniki 2004, str. 73-81

Seminarium STM/AFM

  • T. Gotszalk, K. Kolanek, K. Woźniak, K. Waszczuk, G. Wielgoszekski,
    M. Woszczyna,A. Masalska Mikroskop sił ścinających shear force z piezo-
    elektrycznym rezonatorem kwarcowym Seminarium STM/AFM
    , Zakopane,
    grudzień 2004, P-16

Microelectronic Engineering

  • M. Zaborowski, K. Domański, I. W. Rangelow, P. Grabiec, T.Gotszalk, Nano-width
    lines using lateral pattern definition technique for nanoimprint template fabrication. Wytwarzanie lini o szerokości nanometrycznej dla matryc odciskowych typu nanoimprint
    , Microelectron. Eng. 2004 vol. 73/74 s. 599-603, 7

Journal of Vacuum Science and Technology B

  • M. Zaborowski, K. Domański, I. W. Rangelow, P. Grabiec, T.Gotszalk, P. CzarneckiMicrofabricated cantilever with metallic tip for electrostatic and capacitance microscopy and its application to investigation of semiconductor devices. Mikrosystemowa dźwignia z przewodzącym ostrzem do mikroskopii sił elektrostatycznych i mikroskopii pojemnościowej, J. Vac. Sci. Technol.,
    B Microelectron. Nanometer Struct. 2004 vol. 22 nr 2 s. 506-519

Sensors and Actuators B: Chemical

  • B. W. Licznerski, K. Nitsch, H. Teterycz, T. Sobański, K. Wiśniewski, Characterisation 
    of electrical parameters for multilayer SnO2 gas sensors
    , Sensors and Actuators B: Chemical, Volume 103, Issues 1-2, 29 September 2004, 69-75

Thin Solid Films

  • S. Kochowski, K. Nitsch, B. Paszkiewicz, R. Paszkiewicz, Characterization of the interface and the bulk phenomena in metal-SiO2-(n) GaAs structure by analysis of the equivalent circuit parameters at different temperatures, Thin Solid Films, Volume 467, Issues 1-2, 22 November 2004, 190-196

 2003

Microelectronic Engineering

  • T. Ivanov, T. Gotszalk, T. Sulzbach, I. Chakarov, I.W. Rangelow, AFM cantilever with ultra-thin transistor-channel piezoresistor: quantum confinement. Czujnik do mikroskopii sił atomowych z ultracienkim piezorezystorem, Microelectron. Eng. 2003 vol. 67/68 s. 534-541

  • T. Ivanov, T. Gotszalk, P. Grabiec, E. Tomerov, I.W. Rangelow, Thermally driven micromechanical beam with piezoresistive deflection readout. Mikromechaniczny piezorezystywny czujnik ze wzbudzeniem termicznym, Microelectron. Eng. 2003
    vol. 67/68 s. 550-556

Journal of Vacuum Science and Technology B

  • N. Abedinov, C. Popov, Z. Yordanov, T. Ivanov, T. Gotszalk, P. Grabiec, W. Kulisch, 
    I. W. Rangelow, D. Filenko, Y. Shirshov, Chemical recognition based on micromachined silicon cantilever array. Matryca czujników mikromechanicznych do rozpoznawania składu chemicznego, J. Vac. Sci. Technol., B Microelectron. Nanometer Struct. 2003 vol. 21 nr 6 s. 2931-2936

  • K. Domański, P. Grabiec, J. Marczewski, T. Gotszalk, T. Ivanov, N. Abedinov, 
    I. W. Rangelow, Fabrication and properties of piezoresistive cantilever beam with porous silicon element. Wytwarzanie czujnika piezorezystywnego z porowatym obszarem aktywnym, J. Vac. Sci. Technol., B Microelectron. Nanometer Struct. 2003 vol. 21 nr 1 s. 48-52

  • R. Pędrak, T. Ivanov, K. Ivanova, T. Gotszalk, N. Abedinov, I. W. Rangelow,
    K. Edinger, E. Tomerov, T. Schenkel, P. Hudek, Micromachined atomic force microscopy sensor with integrated piezoresistive sensor and thermal bimorph actuator for high-speed tapping-mode atomic force microscopy phase-imaging in higher eigenmodes. Mikrosytemowy piezorezystywny czujnik ze wzbudzeniem termicznym do mikroskopii sił atomowych dużej prędkości skanowania, J. Vac. Sci. Technol., B Microelectron. Nanometer Struct. 2003 vol. 21 nr 6 s. 3102-3107

Materials Science

  • I. W. Rangelow, P. Grabiec, T.Gotszalk, Application of electrostatic force microscopy in nanosystem diagnostics. Zastosowanie mikroskopii sił elektrostatycznych w diagnostatyce nanosystemów, Mater. Sci. 2003 vol. 21 nr 3 s. 333-338

  • R. Szeloch, W. Posadowski, T. Gotszalk, P. Janus, T. Kowaliw, Thermal characterization of copper thin films made by means of sputtering. Termiczna charakteryzacja cienkich warstw miedzi wytwarzanych metodą sputeringu, Mater. Sci. 2003 vol. 21 nr 3 s. 339-343

Vacuum

  • J. Wilk, Z. W. Kowalski, Titanium surface after neutralized ion beam irradiation, Vacuum, 2003, vol.70, nr 2-3, s. 87-91

  • G. Przybylski, J. Martan, Z. W. Kowalski, Fractal analysis of ion sputtered stainless steel surface, Vacuum, 2003, vol.70, nr 2-3, s. 255-261

Thin Solid Films

  • S. Kochowski, K. Nitsch, B. Paszkiewicz, R. Paszkiewicz, Two constant phase element behaviour of the admittance characteristics of GaAs metal-insulator-semiconductor structure with deep traps, Thin Solid Films, Volume 444, Issues 1-2, 1 November 2003, 208-214

2002

Thin Solid Films

  • S. Kochowski, K. Nitsch, Description of the frequency behaviour of metal-SiO2-GaAs structure characteristics by electrical equivalent circuit with constant phase element, Thin Solid Films, Volume 415, Issues 1-2, 1 August 2002, 133-137

2001

Elektronika

  • J. Wilk, Z. W. Kowalski, G. Przybylski, Modyfikacja chropowatości powierzchni stali nierdzewnej wiązkami jonowymi, Elektronika, 2001, R.XLII, z. 7, s. 36-39

  • J. Martan, Z. W. Kowalski, Analiza fraktalna w technice jonowej, Elektronika, 2001, 
    R. XLII, z. 7, s. 16-17

Vacuum

  • J. Wilk, Z. W. Kowalski, G. Przybylski, Ion-sputter-modification of metal targets, Vacuum, 2001, vol.63, nr 4, s. 597-601

  • Z. W. Kowalski, Ion sputter induced surface morphology - biomedical implications, Vacuum, 2001, vol.63, nr 4, s. 603-608

Sensors and Actuators B: Chemical

  • B. W. Licznerski, K. Nitsch, H. Teterycz, K. Wiśniewski, The influence of Rh surface doping on anomalous properties of thick-film SnO2 gas sensors , Sensors and Actuators B: Chemical, Volume 79, Issues 2-3, 15 October 2001