Laboratorium Optoelektroniki i Techniki Światłowodowej

Załoga:
dr inż. Jacek Radojewski —
kierownik laboratorium
dr inż. Anna Sankowska
mgr inż. Michał Świątkowski
pokój numer: 410/C-2
tel. +48 71 320-29-67
Wyposażenie:
Aparatura specjalistyczna
- spawarka światłowodowa FSU 925 PM-A do światłowodów polaryzacyjnych firmy ERICSON
- spawarka światłowodowa RXS X75 (Siemens)
- Optical Spectrum Analyzer AQ-6315B (ANDO)
- OTDR-mini AQ7250 (ANDO)
- Communication Signal Analyser CSA 803C z wejściem optycznym (Tektronix)
Podstawowa aparatura laboratoryjna
- oscyloskop cyfrowy Hewlett Packard 54610A
- oscyloskopy Tektronix serii TDS 3000 i TDS 1000
- lasery He-Ne Melles Griot 5 mW mocy optycznej
- laser argonowy 2W mocy ciągłej z wybieraniem linii pryzmatem Litrowa (Carl-Zeiss Jena)
- monochromator Carl-Ziess Jena
- monochromator MONOSPEK 1000
- monochromator siatkowy Jobin-Yvon
- sprzęgacze światłowodowe
- zestaw do montażu złączy światłowodowych
- uniwersalne mierniki mocy optycznej firmy Siemens
- kalibrowane źródła mocy optycznej firmy Siemens
- analizator pola optycznego
- mikroskop stereoskopowy MST 132
- mikroskop optyczny z nasadką odbiciową
- mikroskop do pracy w podczerwieni MIK-4
- mikroskopy polaryzacyjno-interferencyjne BIOLAR PI
- mikroskopy z kontrastem fazowym
- wyposażenie warsztatu elektronicznego (lutownice Weller, generatory (w tym cyfrowe z syntezą częstotliwości DS340 Stanford Research Systems), zasilacze zwykłe i programowalne firmy Keithley, multimetry Keithley 2000
Badania prowadzone w laboratorium:
Technika światłowodowa
Możliwości pomiarowe:
- charakteryzacja światłowodów stosowanych w telekomunikacji i w celach czujnikowych
- pomiary parametrów światłowodów planarnych
- pomiary spektralne światłowodów włóknistych
- pomiary apertury numerycznej
- pomiary rozkładu współczynnika załamania światła
- pomiary rozkładu mocy optycznej montaż i diagnostyka sieci światłowodowych metodą OTDR
Optoelektronika
Możliwości pomiarowe
- diagnostyka elementów, przyrządów i układów optoelektronicznych
- fotodetektory (podczerwieni, telekomunikacyjne, fotodiody PIN, MSM, lawinowe, fotopowielacze)
- źródła światła (diody LED, lasery gazowe, na ciele stałym, półprzewodnikowe, telekomunikacyjne, do zastosowań medycznych)
- przetworniki i wyświetlacze obrazu
- wyświetlacze alfanumeryczne LCD
- elementy bierne i czynne techniki światłowodowej włóknistej i scalonej
- optoelektroniczne i światłowodowe systemy czujnikowe
- pomiary ugięcia dźwigni w mikroskopii bliskich oddziaływań
Mikroskopia bliskiego pola optycznego
Możliwości pomiarowe
- analiza i synteza dźwigni pomiarowych typu SNOM/PSTM/AFM z nanoaperturą do pomiarów polaryzacyjnych, fluorescencyjnych, biologicznych oraz topografii
- obserwacja i analiza propagacji światła w strukturach optyki zintegrowanej, mikroukładach optoelektronicznych i systemach MEOMS
- pomiary rozkładu współczynnika załamania w strukturach optyki zintegrowanej mikroukładach optoelektronicznych i systemach MEOMS
- pomiary własności optycznych struktur kwantowych
- analiza rozkładu promieniowania optycznego emiterów promieniowania (LED, laserów pp) w polu bliskim
Zdjęcia