Politechnika Wrocławska
Nauczyciele Akademiccy
Doktoranci
Pracownicy inżynieryjno- techniczni

Nasi studenci
Anna Gosiewska
Kamil Raczkowski
Andrzej Dzierka
Paweł Biczysko
Mateusz Jasiński
Michał Babij
Piotr Kunicki
Nasi wcześniejsi współpracownicy
Benedykt Licznerski
Andrzej Bochenek
Janusz Kozłowski
Janusz Wilk
Agata Masalska-Pawlak
Marcin Dudek
Krzysztof Kolanek
Mirosław Woszczyna
Mateusz Wroński
Paweł Zawierucha
Magdalena Bujonek
Zuzanna Kowalska
Bogumił Frank
Mateusz Garbowicz
Krzysztof Garczyński
Grzegorz Gruca
Wiktor Herwich
Marcin Klich
Jakub Mateńko
Grzegorz Małozięć
Piotr Mulak
Konrad Nieradka
Zdzisław Nowacki
Łukasz Olczyk
Jarosław Olszewski
Adam Piotrowicz
Jan Skwierczyński
Piotr Słupski
Przemysław Sulecki
Tomasz Wojciechowski
Bartłomiej Wierdak
Klaudiusz Woźniak
Krystian Cecot
Michał Dusza
Alicja Palczyńska
Natalia Pyka
Teodor Gotszalk

prof. dr hab. inż. Teodor Gotszalk
budynek C-2, pokój 213-215, +48 71 320 3202
teodor.gotszalk@pwr.edu.pl

Zainteresowania naukowe/działalność naukowa

  • nanomiernictwo i nanotechnologia
  • modularna mikroskopia bliskich oddziaływań
  • metody charakteryzacji materiałów mikro- i nanoelektronicznych
  • pomiary i charakteryzacja układów MEMS

Uczestnictwo w grantach

  • STREP NANOHEAT Multidomain platform for integrated more-than-Moore/beyond CMOS systems characterisation & diagnostics, projekt UE z 7. Programu Ramowego
  • Nanometrologia siły i zmian masy z zastosowaniem mikro- i nanoukładów typu MEMS i NEMS FoMaMet, grant przyznany w programie TEAM Fundacji na rzecz Nauki Polskiej
  • Elektromagnetycznie aktuowane mikrosystemy do pomiaru sił w zakresie pikoniutonów EMAGTOOL, grant przyznany w konkursie OPUS Narodowego Centrum Nauki
  • IP PRONANO  Technologie produkcji i wykorzystania równoległych matryc dźwigni
    ze zintegrowanym aktuatorem wychylenia
  • STREP TASNANO  Przyrządy do syntezy i analizy nanostruktur, projekt UE
  • Projekt programu POIG, POIG.01.03.01-00-0114/08-03, Mikro- i Nano Systemy w Chemii i Diagnostyce Biomedycznej
  • Projekt programu POIG, POIG.01.03.01-02-002/08, Czujniki i sensory do pomiarów czynników stanowiących zagrożenie w środowisku-modelowanie i monitoring zagrożeń
  • Wysokorozdzielcze badania właściwości cieplnych nanostruktur metodami skaningowej mikroskopii termicznej bliskiego pola z oporowymi nanoczujnikami temperatury, opiekun grantu przyznanego w konkursie PRELUDIUM Narodowego Centrum Nauki
  • Badania właściwości warstw samoorganizujących metodami mikroskopii bliskich oddziaływań, grant promotorski NN515 245337
  • Zastosowanie mikromechanicznych dźwigni sprężystych ze zintegrowanymi aktauatorami wychylenia i detektorami ugięcia w mikroskopii bliskich oddziaływań, grant promotorski N N 515181635
  • Opracowanie technologii wytwarzania nanostruktur za pomocą mikroskopii bliskich oddziaływań, grant promotorski N515 03232/2344
  • MNiSW 3T11B02130  Informacje w diagnostycznych systemach bliskiego pola,
    (2006-2008), kierownik projektu dr hab. inż. Roman Szeloch
  • MNiI 3T11B01127  Badanie właściwości elektrycznych nanostruktur za pomocą mikrosystemowego czujnika z przewodzącym ostrzem pomiarowym, (2004 - 2007), kierownik projektu dr hab. inż. Teodor Gotszalk
  • KBN 4T11B00224  Charakteryzacja? własności termicznej struktur wielowarstwowych
    z mikro i nanometrową rozdzielczością, (2003 - 2005), kierownik projektu dr hab. inż. Roman Szeloch, prof. nadzw
  • TECHNE  Komputerowy sterownik modularnego systemu mikroskopu bliskich oddziaływań, projekt Fundacji na Rzecz Nauki Polskiej (FNP), 2002, kierownik projektu dr inż. Teodor Gotszalk
  • KBN 8T11B04218  Mikroskopia bliskiego pola optycznego SNOM-PSTM
    z mikrosystemowym detektorem promieniowania optycznego, (1999 - 2001), kierownik projektu dr inż. Jacek Radojewski
  • Czujniki dla mikroskopii bliskich oddziaływań, projekt współpracy międzynarodowej, (1999 - 2001), partner niemiecki Uniwersytet w Kassel (Niemcy), grupa dr hab. inż. I. W. Rangelowa
  • KBN8T1100114  Zastosowanie mikrosondy oporowej do badania temperatury organizmów biologicznych, (1999 - 2001), projekt realizowany we współpracy z ITE Warszawa, kierownik projektu dr inż. Michał Zaborowwski
  • KBN 8T11B00817  Badania właściwości absorbcyjnych krzemu porowatego,
    (1999 - 2001), projekt realizowany we współpracy z ITE Warszawa, kierownik projektu
    dr inż. Krzysztof Domański
  • KBN 8T11B00615  Badania niejednorodności termicznych w mikrosystemach,
    (1998 - 2000), kierownik projektu dr hab. inż. Roman Szeloch
  • KBN 8T11B00715  Mikroskop sił elektrostatycznych w diagnostyce materiałów
    i elementów mikroelektronicznych, (1998 - 2000), kierownik projektu dr inż. Teodor Gotszalk
  • Skaningowy mikroskop pojemnościowy, Centrum Nanotechnologii i Materiałów Zaawansowanych Politechniki Wrocławskiej, (1998 - 2000), kierownik projektu
    dr inż. Teodor Gotszalk

Współpraca krajowa i zagraniczna

  • Uniwerytet Techniczny w Ilmenau (grupa prof. dr. hab. inż. I. W. Rangelowa)
  • Instytut Badań Nieniszczących Fraunhofera - oddział w Dreźnie (IZFP-D, Niemcy)
  • AMD Saxony LLC & Co., Materials Analysis Department, Dresden (Niemcy)
  • Instytut Technologii Elektronowej w Warszawie
  • Instytut Immunologii i Terapii Doświadczalnej PAN Wrocław
  • konsorcjum projektu NANOHEAT
  • konsorcjum projektu TASNANO
  • konsorcjum projektu PRONANO

 

Dydaktyka

  • Zastosowania mikroelektronicznych układów cyfrowych i analogowych
  • Analogowe i cyfrowe układy elektroniczne
  • Metrologia
  • Nanodiagnostyka
  • Czujniki i aktuatory
  • Laboratorium Techniki Światłowodowej
  • Laboratorium Optoelektroniki

WYNIKI SPRAWDZIANÓW

Ważniejsze publikacje

  • Nieradka, K., Gotszalk, T., Schroeder, G. A novel method for simultaneous readout of static bending and multimode resonance-frequency of microcantilever-based biochemical sensors (2011) Sensors and Actuators, B: Chemical, Artykuł w druku.
  • Waszczuk, K., Gula, G., Swiatkowski, M., Olszewski, J., Herwich, W., Drulis-Kawa, Z., Gutowicz, J., Gotszalk, T. Evaluation of Pseudomonas aeruginosa biofilm formation using piezoelectric tuning fork mass sensors (2010) Sensors and Actuators, B: Chemical, Artykuł w druku.
  • Wielgoszewski, G., Sulecki, P., Gotszalk, T., Janus, P., Grabiec, P., Hecker, M., Ritz, Y., Zschech, E.Scanning thermal microscopy: A nanoprobe technique for studying the thermal properties of nanocomponents (2011) Physica Status Solidi (B) Basic Research, 248 (2), ss. 370-374.
  • Kolanek, K., Hermann, P., Dudek, P.T., Gotszalk, T., Chumakov, D., Weisheit, M., Hecker, M., Zschech, E. Local anodic oxidation by atomic force microscopy for nano-Raman strain measurements on silicon-germanium thin films (2010) Thin Solid Films, 518 (12), ss. 3267-3272.
  • Janus, P., Szmigiel, D., Weisheit, M., Wielgoszewski, G., Ritz, Y., Grabiec, P., Hecker, M., Gotszalk, T., Sulecki, P., Zschech, E. Novel SThM nanoprobe for thermal properties investigation of micro- and nanoelectronic devices (2010) Microelectronic Engineering, 87 (5-8), ss. 1370-1374.
  • Woszczyna, M., Gotszalk, T., Zawierucha, P., Zielony, M., Ivanow, Tzv., Ivanowa, K., Sarov, Y., Nikolov, N., Mielczarski, J., Mielczarska, E., Rangelow, I.W. Thermally driven piezoresistive cantilevers for shear-force microscopy (2009) Microelectronic Engineering, 86 (4-6), ss. 1212-1215.
  • Janusz, M., Woszczyna, M., Lisowski, M., Kubis, A., Macała, J., Gotszalk, T., Lisowski, J. Ovine colostrum nanopeptide affects amyloid beta aggregation (2009) FEBS Letters, 583 (1), ss. 190-196.
  • Makarona, E., Kapetanakis, E., Velessiotis, D.M., Douvas, A., Argitis, P., Normand, P., Gotszalk, T., Woszczyna, M., Glezos, N. Vertical devices of self-assembled hybrid organic/inorganic monolayers based on tungsten polyoxometalates (2008) Microelectronic Engineering, 85 (5-6), ss. 1399-1402.
  • Dal Savio, C., Dejima, S., Danzebrink, H.-U., Gotszalk, T. 3D metrology with a compact scanning probe microscope based on self-sensing cantilever probes (2007) Measurement Science and Technology, 18 (2), art. no. S02, ss. 328-333.
  • Rangelow, I.W., Ivanov, Tzv., Ivanova, K., Volland, B.E., Grabiec, P., Sarov, Y., Persaud, A., Gotszalk, T., Zawierucha, P., Zielony, M., Dontzov, D., Schmidt, B., Zier, M., Nikolov, N., Kostic, I., Engl, W., Sulzbach, T., Mielczarski, J., Kolb, S., Latimier, D.P., Pedreau, R., Djakov, V., Huq, S.E., Edinger, K., Fortagne, O., Almansa, A., Blom, H.O. Piezoresistive and self-actuated 128-cantilever arrays for nanotechnology applications (2007) Microelectronic Engineering, 84 (5-8), ss. 1260-1264.
  • M. Zaborowski, K. Domański, I. W. Rangelow, P. Grabiec, T.Gotszalk, Nano-width lines using lateral pattern definition technique for nanoimprint template fabrication. Wytwarzanie lini o szerokości nanometrycznej dla matryc odciskowych typu nanoimprint, Microelectron. Eng. 2004 vol. 73/74 s. 599-603, 7
  • M. Zaborowski, K. Domański, I. W. Rangelow, P. Grabiec, T.Gotszalk, P. Czarnecki Microfabricated cantilever with metallic tip for electrostatic and capacitance microscopy and its application to investigation of semiconductor devices. Mikrosystemowa dźwignia z przewodzącym ostrzem do mikroskopii sił elektrostatycznych i mikroskopii pojemnościowej, J. Vac. Sci. Technol.,
    B Microelectron. Nanometer Struct. 2004 vol. 22 nr 2 s. 506-519
  • E. Kamińska, K. Gołaszewska, A. Piotrowska, A. Kuchuk, R. Kruszka, E. Papis, R. Szeloch, P.Janus, T. Gotszalk, A. Barcz, Study of long-term stability of ohmic contacts to GaN. Badanie długoterminowej stabilności kontaktów omowych do GaN, KKPhys. Status Solidi, C Conf. Proc. 2004 vol. 1 nr 2 s. 219-222
  • R. Szeloch, P.Janus, T. Gotszalk, Thermal characterization of micro-devices with far and near field microscopy. Termiczna charakteryzacja mikrosystemów przy zastosowaniu mikroskopii dalekiego i bliskiego pola, Opt. Appl. 2003 vol. 33
    nr 4 s. 669-676
  • I. W. Rangelow, P. Grabiec, T.Gotszalk, Application of electrostatic force microscopy in nanosystem diagnostics. Zastosowanie mikroskopii sił elektrostatycznych w diagnostatyce nanosystemów, Mater. Sci. 2003 vol. 21 nr 3 s. 333-338
  • R. Szeloch, W. Posadowski, T. Gotszalk, P. Janus, T. Kowaliw, Thermal characterization of copper thin films made by means of sputtering. Termiczna charakteryzacja cienkich warstw miedzi wytwarzanych metodą sputeringu, Mater. Sci. 2003 vol. 21 nr 3 s. 339-343
  • R. Pędrak, T. Ivanov, K. Ivanova, T. Gotszalk, N. Abedinov, I. W. Rangelow, K. Edinger, E. Tomerov, T. Schenkel, P. Hudek, Micromachined atomic force microscopy sensor with integrated piezoresistive sensor and thermal bimorph actuator for high-speed tapping-mode atomic force microscopy phase-imaging in higher eigenmodes. Mikrosytemowy piezorezystywny czujnik ze wzbudzeniem termicznym do mikroskopii sił atomowych dużej prędkości skanowania, J. Vac. Sci. Technol., B Microelectron. Nanometer Struct. 2003 vol. 21 nr 6 s. 3102-3107
  • T. Ivanov, T. Gotszalk, T. Sulzbach, I. Chakarov, I.W. Rangelow, AFM cantilever with ultra-thin transistor-channel piezoresistor: quantum confinement. Czujnik do mikroskopii sił atomowych z ultracienkim piezorezystorem, Microelectron. Eng. 2003 vol. 67/68 s. 534-541
  • T. Gotszalk, P. Grabiec, I.W. Rangelow, Calibration and examination of piezoresistive Wheatstone bridge cantilevers for scanning probe microscopy. Kalibracja i testowanie piezorezystywnych dźwigni dla mikroskopii bliskich oddziaływań, Ultramicroscopy 2003 vol. 97 nr 1/4 s. 385-389
  • T. Ivanov, T. Gotszalk, P. Grabiec, E. Tomerov, I.W. Rangelow, Thermally driven micromechanical beam with piezoresistive deflection readout. Mikromechaniczny piezorezystywny czujnik ze wzbudzeniem termicznym, Microelectron. Eng. 2003
    vol. 67/68 s. 550-556
  • K. Domański, P. Grabiec, J. Marczewski, T. Gotszalk, T. Ivanov, N. Abedinov, I. W. Rangelow, Fabrication and properties of piezoresistive cantilever beam with porous silicon element. Wytwarzanie czujnika piezorezystywnego z porowatym obszarem aktywnym, J. Vac. Sci. Technol., B Microelectron. Nanometer Struct. 2003 vol. 21 nr 1 s. 48-52
  • N. Abedinov, C. Popov, Z. Yordanov, T. Ivanov, T. Gotszalk, P. Grabiec, W. Kulisch, I. W. Rangelow, D. Filenko, Y. Shirshov, Chemical recognition based on micromachined silicon cantilever array. Matryca czujników mikromechanicznych do rozpoznawania składu chemicznego, J. Vac. Sci. Technol., B Microelectron. Nanometer Struct. 2003 vol. 21 nr 6 s. 2931-2936