Nauczyciele Akademiccy

• • Teodor Gotszalk
  • Zbigniew W. Kowalski
  • Karol Nitsch
  • Roman Szeloch
  • Tomasz Piasecki
  • Grzegorz Jóźwiak
  • Jacek Radojewski
  • Anna Sankowska
  • Jarosław Serafińczuk
  • Przemysław Szecówka

Doktoranci

• • Konrad Chabowski
  • Michał Babij
  • Krzysztof Gajewski
  • Daniel Kopiec
  • Wojciech Majstrzyk
  • Magdalena Moczała
  • Konrad Nieradka
  • Karolina Orłowska
  • Piotr Pałetko
  • Maciej Rudek
  • Michał Świątkowski
  • Grzegorz Wielgoszewski
  • Karol Waszczuk
  • Michał Zielony

Pracownicy inżynieryjno- techniczni

Nasi studenci

Anna Gosiewska
Kamil Raczkowski
Andrzej Dzierka
Paweł Biczysko
Mateusz Jasiński
Michał Babij
Piotr Kunicki

Nasi wcześniejsi współpracownicy

Benedykt Licznerski
Andrzej Bochenek
Janusz Kozłowski
Janusz Wilk
Agata Masalska-Pawlak
Marcin Dudek
Krzysztof Kolanek
Mirosław Woszczyna
Mateusz Wroński
Paweł Zawierucha
Magdalena Bujonek
Zuzanna Kowalska
Bogumił Frank
Mateusz Garbowicz
Krzysztof Garczyński
Grzegorz Gruca
Wiktor Herwich
Marcin Klich
Jakub Mateńko
Grzegorz Małozięć
Piotr Mulak
Konrad Nieradka
Zdzisław Nowacki
Łukasz Olczyk
Jarosław Olszewski
Adam Piotrowicz
Jan Skwierczyński
Piotr Słupski
Przemysław Sulecki
Tomasz Wojciechowski
Bartłomiej Wierdak
Klaudiusz Woźniak
Krystian Cecot
Michał Dusza
Alicja Palczyńska
Natalia Pyka

Zainteresowania naukowe/działalność naukowa

• skaningowa mikroskopia termiczna (SThM)
• mikroskopia sił atomowych z użyciem ostrzy przewodzących (C-AFM)
• poprawność językowa w tekstach technicznych

Uczestnictwo w grantach

• Wysokorozdzielcze badania właściwości cieplnych nanostruktur metodami skaningowej mikroskopii termicznej bliskiego pola z oporowymi nanoczujnikami temperatury, grant przyznany w konkursie PRELUDIUM Narodowego Centrum Nauki, kierownik projektu (2012-2013)
• Opracowanie metod pomiaru właściwości cieplnych w mikro- i nanoskali wykorzystujących skaningowy mikroskop cieplny (kierownik projektu: prof. Jerzy Bodzenta, Politechnika Śląska)
• STREP TASNANO  Przyrządy do syntezy i analizy nanostruktur
• MNiI 3T11B01127  Badanie właściwości elektrycznych nanostruktur za pomocą mikrosystemowego czujnika z przewodzącym ostrzem pomiarowym

Współpraca krajowa i zagraniczna

• Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren, Dresden (Niemcy)
• Globalfoundries Inc. / AMD Saxony LLC & Co., Center for Complex Analysis, Dresden (Niemcy)
• Instytut Technologii Elektronowej w Warszawie
• Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej

Dydaktyka

• Metrologia (II rok WEMiF)
• Przetwarzanie sygnałów (III rok WEMiF)
• Procesory sygnałowe (III rok WEMiF)
• Projektowanie układów optoelektronicznych (V rok WEMiF)

Ważniejsze publikacje

• G. Wielgoszewski, P. Sulecki, P. Janus, P. Grabiec, E. Zschech, T. Gotszalk „A high-resolution measurement system for novel scanning thermal microscopy resistive nanoprobes”, Measurement Science and Technology 22 (9), 2011, s. 094023 doi:10.1088/0957-0233/22/9/094023.
  
• G. Wielgoszewski, P. Sulecki, T. Gotszalk, P. Janus, P. Grabiec, M. Hecker, Y. Ritz, E. Zschech, „Scanning thermal microscopy: A nanoprobe technique for studying the thermal properties of nanocomponents”, Physica Status Solidi B 248 (2), 2011, ss. 370–374 doi:10.1002/pssb.201046614.
  
• G. Wielgoszewski, P. Sulecki, T. Gotszalk, P. Janus, D. Szmigiel, P. Grabiec, E. Zschech, „Microfabricated resistive high-sensitivity nanoprobe for scanning thermal microscopy”, Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 28 (6), 2010, ss. C6N7-C6N11, doi:10.1116/1.3502614.
• P. Janus, D. Szmigiel, M. Weisheit, G. Wielgoszewski, Y. Ritz, P. Grabiec, M. Hecker, T. Gotszalk, P. Sulecki, E. Zschech, „Novel SThM nanoprobe for thermal properties investigation of micro- and nanoelectronic devices”, Microelectronic Engineering 87, 2010, ss. 1370–1374, doi:10.1016/j.mee.2009.11.178.
• G. Małozięć, T. Gotszalk, K. Nieradka, G. Wielgoszewski, P. Sulecki, J. Radojewski, P. Grabiec, P. Janus, „Wielowiązkowy układ do obserwacji ugięcia dźwigni macierzy czujników mikromechanicznych”, Przegląd Elektrotechniczny 86 (10), 2010, ss. 83–85 [link]
• G. Wielgoszewski, „Pomiary cienkich warstw dielektryków podbramkowych za pomocą sond z przewodzącymi ostrzami”, [w:] Janusz Kacprzyk (red.), Innowacyjne rozwiązania w obszarze automatyki, robotyki i pomiarów, Oficyna Wydawnicza PIAP, Warszawa 2009, ISBN 978-83-61278-06-1, ss. 7–17.
• G. Gruca, G. Wielgoszewski, M. Zielony, P. Zawierucha, M. Świątkowski, A. Masalska, K. Kolanek, K. Waszczuk, M. Woszczyna, J. Radojewski, T. Gotszalk, P. Grabiec, I. Rangelow, „Mikrodźwignia sprężysta jako bioczujnik”, [w:] Grzegorz Schroeder (red.), Materiały supramolekularne, Betagraf PUH, Poznań 2008, ISBN 978-83-89936-21-9, ss. 379–412.
• G. Wielgoszewski, T. Gotszalk, M. Woszczyna, P. Zawierucha, E. Zschech, „Conductive atomic force microscope for investigation of thin-film gate insulators”, Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences 56 (1), 2008, ss. 39–44 [link].
• G. Wielgoszewski, P. Mulak, K. Woźniak, W. Herwich, M. Zielony, „Uniwersalny
  cyfrowy regulator PID do sterowania temperaturą w układach mikrosystemowych
  i optoelektronicznych”, IV Konferencja Naukowa Studentów, Politechnika Wrocławska, Wrocław 2006.
• G. Wielgoszewski, B. Wielgoszewski „Stan zabytkowego taboru tramwajowego we Wrocławiu oraz perspektywy jego wykorzystania”, IV Konferencja Naukowa Studentów, Politechnika Wrocławska, Wrocław 2006.