Krzysztof Gajewski

Krzysztof Gajewski
budynek C-2, pokój 015a, +48 71 320-36-51
krzysztof.gajewski@pwr.wroc.pl
strona prywatna
Zainteresowania naukowe/działalność naukowa
- Miroskopia bliskich oddziaływań, a zwłaszcza
- Skaningowa mikroskopia tunelowa (STM)
- Skaningowa potencjometria tunelowa (STP)
- Mikroskopia sił atomowych (AFM)
- Mikroskopia sił atomowych z sondą przewodzącą (C-AFM)
- Mikroskopia sił elektrostatycznych (EFM)
- Mikroskopia sił z sondą Kelvina (KPFM)
- Szeroko pojęte programowanie
Uczestnictwo w grantach
- Nanometrologia siły i zmian masy z zastosowaniem mikro- i nanoukładów typu MEMS i NEMS FoMaMet, grant przyznany w programie TEAM Fundacji na rzecz Nauki Polskiej (grant nr TEAM/2012-9/3)
- Projekt programu POIG, POIG.01.03.01-02-002/08, Czujniki i sensory do pomiarów czynników stanowiących zagrożenie w środowisku-modelowanie i monitoring zagrożeń
- IP PRONANO Technologie produkcji i wykorzystania równoległych matryc dźwigni ze zintegrowanym aktuatorem wychylenia
Współpraca krajowa i zagraniczna
- Instytut Technologii Elektronowej w Warszawie
- Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
- Instytut Immunologii i Terapii Doświadczalnej PAN we Wrocławiu
Dydaktyka
Ważniejsze publikacje
- Kopiec Daniel, Nieradka Konrad, Rudek Maciej, Gajewski Krzysztof R, Sierakowski Andrzej, Grabiec Piotr, Jóźwiak Grzegorz, Gotszalk Teodor Pomiar szumów piezorezystywnych przetworników mikromechanicznych, Elektronika LIV, 10, 2013, 51 - 4.
- Gajewski Krzysztof R, Gotszalk Teodor, Sierakowski Andrzej, Janus Paweł, Grabiec Piotr, Microfabricated support structures for investigations of mechanical and electrical graphene properties. Proc. SPIE 8902, Electron Technology Conference 2013, 89020G (July 25, 2013); doi:10.1117/12.2030886.
- Oleszkiewicz Waldemar, Kijaszek Wojciech, Gryglewicz Jacek I, Zakrzewski Adrian S, Gajewski Krzysztof R, Kopiec Daniel, Kamyczek Paulina, Popko Ewa, Tłaczała Marek, Characterization of Diamond-like Carbon (DLC) films deposited by RF ICP PECVD method. Proc. SPIE 8902, Electron Technology Conference 2013, 89022H (July 25, 2013); doi:10.1117/12.2031066.
- Gajewski Krzysztof R, Kopiec Daniel, Rudek Maciej, Zawierucha Paweł, Zielony Michał, Moczała Magdalena, Wielgoszewski Grzegorz, Gotszalk Teodor, Strupiński Włodzimierz, Skaningowy mikroskop mikroskop tunelowy do badań nanostruktur grafenowych. Elektronika LIV, 06, 2013, 14 - 9.
- Gajewski K., Gotszalk T., Wielgoszewski G., „Wykorzystanie mikroskopu sił atomowych w trybie stałego prądu do badania materiałów przewodzących i tlenkowych”, Elektronika LII, 10/2011, s. 101.
- Gajewski K., Wielgoszewski G., „Methods of investigation of the properties of the optoelectronic devices with use of atomic force microscopy”, 2010 IEEE International Students and Young Scientists Workshop, ss. 18-20, czerwiec 2010, doi:10.1109/STYSW.2010.5714160.