Nauczyciele Akademiccy

• • Teodor Gotszalk
  • Zbigniew W. Kowalski
  • Karol Nitsch
  • Roman Szeloch
  • Tomasz Piasecki
  • Grzegorz Jóźwiak
  • Jacek Radojewski
  • Anna Sankowska
  • Jarosław Serafińczuk
  • Przemysław Szecówka

Doktoranci

• • Konrad Chabowski
  • Michał Babij
  • Krzysztof Gajewski
  • Daniel Kopiec
  • Wojciech Majstrzyk
  • Magdalena Moczała
  • Konrad Nieradka
  • Karolina Orłowska
  • Piotr Pałetko
  • Maciej Rudek
  • Michał Świątkowski
  • Grzegorz Wielgoszewski
  • Karol Waszczuk
  • Michał Zielony

Pracownicy inżynieryjno- techniczni

Nasi studenci

Anna Gosiewska
Kamil Raczkowski
Andrzej Dzierka
Paweł Biczysko
Mateusz Jasiński
Michał Babij
Piotr Kunicki

Nasi wcześniejsi współpracownicy

Benedykt Licznerski
Andrzej Bochenek
Janusz Kozłowski
Janusz Wilk
Agata Masalska-Pawlak
Marcin Dudek
Krzysztof Kolanek
Mirosław Woszczyna
Mateusz Wroński
Paweł Zawierucha
Magdalena Bujonek
Zuzanna Kowalska
Bogumił Frank
Mateusz Garbowicz
Krzysztof Garczyński
Grzegorz Gruca
Wiktor Herwich
Marcin Klich
Jakub Mateńko
Grzegorz Małozięć
Piotr Mulak
Konrad Nieradka
Zdzisław Nowacki
Łukasz Olczyk
Jarosław Olszewski
Adam Piotrowicz
Jan Skwierczyński
Piotr Słupski
Przemysław Sulecki
Tomasz Wojciechowski
Bartłomiej Wierdak
Klaudiusz Woźniak
Krystian Cecot
Michał Dusza
Alicja Palczyńska
Natalia Pyka

Zainteresowania naukowe/działalność naukowa

• Miroskopia bliskich oddziaływań, a zwłaszcza
  • Skaningowa mikroskopia tunelowa (STM)
  • Skaningowa potencjometria tunelowa (STP)
  • Mikroskopia sił atomowych (AFM)
  • Mikroskopia sił atomowych z sondą przewodzącą (C-AFM)
  • Mikroskopia sił elektrostatycznych (EFM)
  • Mikroskopia sił z sondą Kelvina (KPFM)
• Szeroko pojęte programowanie

Uczestnictwo w grantach

• Nanometrologia siły i zmian masy z zastosowaniem mikro- i nanoukładów typu MEMS i NEMS FoMaMet, grant przyznany w programie TEAM Fundacji na rzecz Nauki Polskiej (grant nr TEAM/2012-9/3)
• Projekt programu POIG, POIG.01.03.01-02-002/08, Czujniki i sensory do pomiarów czynników stanowiących zagrożenie w środowisku-modelowanie i monitoring zagrożeń
• IP PRONANO Technologie produkcji i wykorzystania równoległych matryc dźwigni ze zintegrowanym aktuatorem wychylenia

Współpraca krajowa i zagraniczna

• Instytut Technologii Elektronowej w Warszawie
• Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
• Instytut Immunologii i Terapii Doświadczalnej PAN we Wrocławiu

Dydaktyka

• Informatyka
• Przetwarzanie sygnałów
• Procesory sygnałowe

Ważniejsze publikacje

• Kopiec Daniel, Nieradka Konrad, Rudek Maciej, Gajewski Krzysztof R, Sierakowski Andrzej, Grabiec Piotr, Jóźwiak Grzegorz, Gotszalk Teodor Pomiar szumów piezorezystywnych przetworników mikromechanicznych, Elektronika LIV, 10, 2013, 51 - 4.
• Gajewski Krzysztof R, Gotszalk Teodor, Sierakowski Andrzej, Janus Paweł, Grabiec Piotr, Microfabricated support structures for investigations of mechanical and electrical graphene properties. Proc. SPIE 8902, Electron Technology Conference 2013, 89020G (July 25, 2013); doi:10.1117/12.2030886.
• Oleszkiewicz Waldemar, Kijaszek Wojciech, Gryglewicz Jacek I, Zakrzewski Adrian S, Gajewski Krzysztof R, Kopiec Daniel, Kamyczek Paulina, Popko Ewa, Tłaczała Marek, Characterization of Diamond-like Carbon (DLC) films deposited by RF ICP PECVD method. Proc. SPIE 8902, Electron Technology Conference 2013, 89022H (July 25, 2013); doi:10.1117/12.2031066.
• Gajewski Krzysztof R, Kopiec Daniel, Rudek Maciej, Zawierucha Paweł, Zielony Michał, Moczała Magdalena, Wielgoszewski Grzegorz, Gotszalk Teodor, Strupiński Włodzimierz, Skaningowy mikroskop mikroskop tunelowy do badań nanostruktur grafenowych. Elektronika LIV, 06, 2013, 14 - 9.
• Gajewski K., Gotszalk T., Wielgoszewski G., „Wykorzystanie mikroskopu sił atomowych w trybie stałego prądu do badania materiałów przewodzących i tlenkowych”, Elektronika LII, 10/2011, s. 101.
• Gajewski K., Wielgoszewski G., „Methods of investigation of the properties of the optoelectronic devices with use of atomic force microscopy”, 2010 IEEE International Students and Young Scientists Workshop, ss. 18-20, czerwiec 2010, doi:10.1109/STYSW.2010.5714160.