Laboratorium Przetwarzania Sygnałów w Technice Mikrosystemów i Nanotechnologii

Załoga:

Grzegorz Jóźwiak

Michał Szymański

Artur Henrykowski

Bogumił Frank

 


pokój numer: 215/C-2
tel. +48 71 320 32 02

Wyposażenie:

  • System do pomiarów szumów termicznych drgań mechanicznych mikrodźwigniowych układów MEMS/NEMS
  • Pakiet oprogramowania TOPOGRAF do przetwarzania i analizy obrazów SPM, w tym:
    • narzędzia do analizy motywów 3D (segmentów)
    • narzędzia do analizy właściwości sond mikroskopii bliskich oddziaływań (AFM, SThM, STM, KPFM)
  • Układ do testowania opracowywanych systemów akwizycji danych

Badania prowadzone w laboratorium:

  • Pomiary szumów drgań termicznych piezorezystywnych dźwigniowych układów MEMS/NEMS
  • Rekonstrukcja kształtu sond AFM, STM, SThM
  • Analiza powierzchni
    • statystyczna
    • fraktalna
    • metodą motywów 3D
  • Rozpoznawanie charakterystycznych właściwości powierzchni z wykorzystaniem technik klasteryzacji
  • Zaawansowana analiza danych w mikrosckopii sił chemicznych
  • Zaawansowane techniki sterowania procesem nanolitografii Dip-Pen

Zdjęcia

Systemy do pomiaru szumów układów MEMS/NEMS i estymacji ich właściwości mechanicznych Narzędzia do analizy motywów 3D (segmentów) Narzędzia do analizy właściwości sond mikroskopii bliskich oddziaływań (AFM, SThM, STM, KPFM) Układ do testowania opracowywanych systemów akwizycji danych